PUZHE蒲柘       55C-FG    金屬覆蓋層測量顯微鏡

產(chǎn)品概述

金屬覆蓋層測量55C-FG采用了光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代攝像成像融為一體的圖像測量技術(shù)，通過檢測橫截面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度。同時完全符合GB T 12334-2001金屬和其他非有機覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)及對應(yīng)IS0 2064:1996標(biāo)準(zhǔn)，GB T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法及對應(yīng)IS0 1463:2003。

產(chǎn)品特點：

1、采用光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代成像測量融為一體的圖像測量技術(shù)

2、攝像系統(tǒng)配置了CCD數(shù)字?jǐn)z像頭，圖像更清晰

3、實現(xiàn)了一鍵測量、一鍵保存。完全取代手工測量繁瑣過程

規(guī)格參數(shù)

買家須知

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